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二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng),可用于機(jī)械解理的各種二維材料的轉(zhuǎn)移及二維材料范德華異質(zhì)結(jié)的堆疊,尤其適用于二維材料的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)角調(diào)控。
半自動(dòng)、全自動(dòng)臺(tái)階儀。JS100B提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像,可無畸變的觀察樣品區(qū),方便定位特征區(qū)域,同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像,可無畸變的觀察樣品區(qū),方便定位特征區(qū)域,同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。
國產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B,穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量,采用金剛石探針,無畸變的觀察樣品區(qū),實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域,突破三個(gè)核心技術(shù),國內(nèi)研發(fā)生產(chǎn),便于售后服務(wù)?!局С侄ㄖ婆_(tái)階儀】
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器,實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng)(非定量力+電+低溫+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元,從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)(非定量力+電+光+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL測量。
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