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原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括力，熱，光，電等），從而對材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了透射電鏡中真正意義上的高分辨率定量原位力學(xué)研究。
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
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