Empyrean Patron
依據摩爾定律及后摩爾定律,工業界一直致力于在縮小芯片面積的同時增加內部器件數量,器件本身尺寸及連接方式變得越來越受限。隨著FinFET和GAAFET結構技術的開發和應用,電遷移及電壓降效應(EM/IR)對芯片設計帶來的挑戰變得無法忽視。
晶體管級EM/IR分析工具Empyrean Patron? 聚焦于模擬芯片的電源完整性檢查解決方案。集成電路設計用戶可以通過該工具快速且高效的得到完整、精準、可靠的EM/IR分析數據及檢查報告。
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