
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 蔡司顯微鏡 > 蔡司光學(xué)顯微鏡 > 蔡司Axio Imager 2材料研究的顯微鏡

簡(jiǎn)要描述:蔡司Axio Imager 2材料研究的顯微鏡可幫助簡(jiǎn)化光學(xué)顯微鏡工作流。蔡司Axio Imager 2能夠?qū)Σ牧仙蓽?zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果。選擇適合您應(yīng)用的系統(tǒng),使用顆粒分析等專用共聚焦或關(guān)聯(lián)顯微鏡解決方案擴(kuò)展您的設(shè)備。
產(chǎn)品型號(hào):
廠商性質(zhì):代理商
更新時(shí)間:2026-04-03
訪 問 量:65相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
用于材料研究的蔡司Axio Imager 2
用于自動(dòng)材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)
在您從事優(yōu)良的材料研究時(shí),Axio Imager 2可幫助簡(jiǎn)化光學(xué)顯微鏡工作流。蔡司Axio Imager 2能夠?qū)Σ牧仙蓽?zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果。選擇適合您應(yīng)用的系統(tǒng),使用顆粒分析等專用共聚焦或關(guān)聯(lián)顯微鏡解決方案擴(kuò)展您的設(shè)備。
☆可重復(fù)的結(jié)果
☆模塊化設(shè)計(jì)
☆高光學(xué)性能
可重復(fù)的結(jié)果
享受無振動(dòng)的工作環(huán)境
如要獲得準(zhǔn)確的結(jié)果,穩(wěn)定性不可少。Axio Imager 2具有穩(wěn)定的成像條件,而在使用高放大倍率或進(jìn)行對(duì)時(shí)間有高要求的研究時(shí),該特性更為顯著。Axio Imager 2的電動(dòng)化設(shè)計(jì)可以獲得快速且可重復(fù)的結(jié)果,同時(shí)始終在恒定條件下工作。

模塊化設(shè)計(jì)
獲得更大的靈活性
無論是學(xué)術(shù)還是工業(yè)研究,材料顯微鏡都面臨著各種各樣的挑戰(zhàn)。借助Axio Imager 2,您將能夠直面并戰(zhàn)勝這些挑戰(zhàn)。您可以連接特定于應(yīng)用的組件,進(jìn)行顆粒分析等工作,也可以檢測(cè)非金屬夾雜物(NMI)、液晶或基于半導(dǎo)體的MEM。借助專用共聚焦或關(guān)聯(lián)顯微鏡解決方案,您的設(shè)備功能將得到擴(kuò)展。

高光學(xué)性能
實(shí)現(xiàn)出色襯度和分辨率
●使用不同觀察方式觀測(cè)金屬、復(fù)合材料或液晶等一系列材料。
●使用反射光,在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉相差(DIC)、圓微分干涉相差(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。
●使用透射光,在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉相差(DIC)、偏光或圓偏光下檢測(cè)樣品。觀察方式管理器能確保照明設(shè)置可復(fù)制。

觀察方式選擇
球墨鑄鐵,拋光樣品,使用不同觀察方式在相同位置成像(觀察視野265 µm)。圖像由德國(guó)凱瑟爾斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。
明場(chǎng)

暗場(chǎng)

偏光(正交偏光)

使用附加了Lambda補(bǔ)償器的偏光

圓微分干涉相差(C-DIC)
人體工程學(xué)設(shè)計(jì)
表面應(yīng)用無極限
Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m可在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能,手指輕松點(diǎn)擊便可控制所有電動(dòng)組件。其他控制按鈕依照人體工程學(xué)設(shè)計(jì)排列在對(duì)焦驅(qū)動(dòng)裝置周邊,帶有觸覺反饋的表面使其易于區(qū)分。Axio Imager.D2m有5個(gè)預(yù)編程按鈕,Axio Imager.Z2m則有10個(gè)用戶自定義按鈕。Axio Imager.A2m已編碼。

熱顯微技術(shù)
靈活記錄溫度變化
您是否想研究溫度對(duì)金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響?
借助ZEN core和Linkam加熱臺(tái),您可以定制加熱或冷卻實(shí)驗(yàn)。在時(shí)間序列中溫度模式會(huì)得到記錄,實(shí)驗(yàn)結(jié)果將包含每幅時(shí)間序列圖像中的溫度和真空數(shù)據(jù)。您可以在質(zhì)量控制等應(yīng)用領(lǐng)域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。

產(chǎn)品咨詢
歡迎您關(guān)注我們的微信號(hào)了解更多信息
掃一掃